夏克-哈特曼波前传感器 单通道波前传感器 波前测量仪 自动波前伟感器单程和双程
夏克-哈特曼波前传感器 单通道波前传感器 离轴波前测量仪 自动波前伟感器单程和双程
SpotOptics于1996年在帕多瓦成立。专注提供夏克-哈特曼波前传感器及其在研发和工业领域中的广泛应用方案。擅长为客户的所有需求提供最前沿的技术支持,设计的整体解决方案可用于光学元件,光学系统和激光等。此外,还提供诊断工具,来帮助用户了解如何优化光学系统和激光系统。从机械的3D建模到最新的软件技术,包括光线追迹,SpotOptics将利用其专业的知识和丰富的经验来解决您的问题,可覆盖以下领域:
· 光学
· 使用Zemax进行光线追迹和光学设计
· 光学测试
· 仪器设计与制造
· 精密机械
· 仪器控制
· 软件开发
· 最新软件技术
· 数学计算
· 图像分析
· 数据统计分析
OMI 波前测试元件:单通道波前传感器
产品特点
*透射测量激光和光学元件
*覆盖宽光谱范围
*高重复性(λ/1000)及高精度(λ/60)
*硬件紧凑轻便,软件分析功能强大
*提供多种配件匹配不同口径光束
*使用者可自行精确校准
产品型号及技术指标
不同型号的OMI | |||||
特性 | 紫外 | 可见光 | 短波红外 | 中波红外 | 长波红外 |
波长(μm) | 0.193-1.1 | 0.38-1.05 | 0.9-1.7 | 1.5-5.4 | 0.193-1.1 |
探测器 | CCD | CMOSis | InGaAs | InSb | CCD |
分辨率(点列) | 75 x 75 | 45 x 45 | 35 x 35 | 35 x 35 | 75 x 75 |
测量速度(Hz) | 7.5 | 90 | 高达344 | 350 | 7.5 |
软件功能 | Zernikes/WF/MTF/PSF/诊断/对准 |
LENTINO 自动波前测量仪
产品特点
*标准镜片和非球面镜片的精确测量
*直径从0.3-20mm
*F数适用范围:F/1-F/15
*高精度Z轴运动电机
*精准的XY位移和倾斜调整台,便于对准镜片
产品型号及技术指标
涵盖的焦点比例 | 标准f/1- f/15 |
可在平行光下测试的镜头直径 | 20mm |
可通过针孔测试的镜头直径 | 15mm |
微透镜阵列数(使用标准相机) | 23x23 |
最大阵列数(使用大幅面相机) | 80x80 |
标准透镜的直径和焦距 | (0.2,11),(0.2,22),(0.3,41) mm |
可测量非球面度 |
轴向球差变化不超过15% |
Zernike系数的测量重复性RMS | 1-2nm rms (λ/600-λ/300) @ 633nm |
波前的测量重复性RMS | < λ/200 |
测量精度 | λ/10-λ/100取决于校准元件的精度 |
测量动态范围(减去倾斜) | -±50 λ |
波长范围 | UV (0.193-1.1μm), Vis (0.193-1.1μm), 0.95-1.7μm |
光源 | LED、LD和卤素灯(一个波长或白光) |
软件(控制和分析) | 传感器 |
相机连接端口 | 提供Gigabit、USB2和USB3连接的相机,10位至16位数据 |
采集速度 | 15-500Hz(取决于相机) |
处理速度 | 5-150Hz(取决于相和PC) |
步进电机的功率要求 | 24V/2A DC |
OPAL 300 自动波前测量仪--用于镜头组和镜片面型测量
产品介绍
*测量重复性高达λ/1000
*精度高达λ/3000
*测量动态范围大
*覆盖波长范围大
产品特点
*泽尼克系数和波前分析
*MTF测试
*最佳焦平面分析
*光学系统优化
*辅助对焦&准直
*应力测量分析