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夏克-哈特曼波前传感器 单通道波前传感器 波前测量仪 自动波前伟感器单程和双程

夏克-哈特曼波前传感器 单通道波前传感器 离轴波前测量仪 自动波前伟感器单程和双程
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Product Details

SpotOptics于1996年在帕多瓦成立。专注提供夏克-哈特曼波前传感器及其在研发和工业领域中的广泛应用方案。擅长为客户的所有需求提供最前沿的技术支持,设计的整体解决方案可用于光学元件,光学系统和激光等。此外,还提供诊断工具,来帮助用户了解如何优化光学系统和激光系统。从机械的3D建模到最新的软件技术,包括光线追迹,SpotOptics将利用其专业的知识和丰富的经验来解决您的问题,可覆盖以下领域:

 

· 光学

· 使用Zemax进行光线追迹和光学设计

· 光学测试

· 仪器设计与制造

· 精密机械

· 仪器控制

· 软件开发

· 最新软件技术

· 数学计算

· 图像分析

· 数据统计分析

 

OMI 波前测试元件:单通道波前传感器

 

产品特点


*透射测量激光和光学元件

*覆盖宽光谱范围

*高重复性(λ/1000)及高精度(λ/60)

*硬件紧凑轻便,软件分析功能强大

*提供多种配件匹配不同口径光束

*使用者可自行精确校准

 

产品型号及技术指标


不同型号的OMI
特性 紫外 可见光 短波红外 中波红外 长波红外
波长(μm) 0.193-1.1 0.38-1.05 0.9-1.7 1.5-5.4 0.193-1.1
探测器 CCD CMOSis InGaAs InSb CCD
分辨率(点列) 75 x 75 45 x 45 35 x 35 35 x 35 75 x 75
测量速度(Hz) 7.5 90 高达344 350 7.5
软件功能 Zernikes/WF/MTF/PSF/诊断/对准

 

LENTINO 自动波前测量仪

 

产品特点


*标准镜片和非球面镜片的精确测量

*直径从0.3-20mm

*F数适用范围:F/1-F/15

*高精度Z轴运动电机

*精准的XY位移和倾斜调整台,便于对准镜片

 

产品型号及技术指标


涵盖的焦点比例 标准f/1- f/15
可在平行光下测试的镜头直径 20mm
可通过针孔测试的镜头直径 15mm
微透镜阵列数(使用标准相机) 23x23
最大阵列数(使用大幅面相机)  80x80
标准透镜的直径和焦距 (0.2,11),(0.2,22),(0.3,41) mm
可测量非球面度

轴向球差变化不超过15%

Zernike系数的测量重复性RMS  1-2nm rms (λ/600-λ/300) @ 633nm
波前的测量重复性RMS < λ/200
测量精度 λ/10-λ/100取决于校准元件的精度
测量动态范围(减去倾斜)  -±50 λ
波长范围 UV (0.193-1.1μm), Vis (0.193-1.1μm), 0.95-1.7μm
光源 LED、LD和卤素灯(一个波长或白光)
软件(控制和分析) 传感器
相机连接端口 提供Gigabit、USB2和USB3连接的相机,10位至16位数据
采集速度 15-500Hz(取决于相机)
处理速度 5-150Hz(取决于相和PC)
步进电机的功率要求 24V/2A DC

 

OPAL 300 自动波前测量仪--用于镜头组和镜片面型测量

 

产品介绍


*测量重复性高达λ/1000

*精度高达λ/3000

*测量动态范围大

*覆盖波长范围大

 

产品特点


*泽尼克系数和波前分析

*MTF测试

*最佳焦平面分析

*光学系统优化

*辅助对焦&准直

*应力测量分析

 

产品中心

PRODUCT CENTER
 

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